Abhatoo - Centre Nationale de Documentation

Mémoire traitant l'effet de la fréquence des champs électriques oscillants sur la tension de rupture par avalanche des diodes à semi-conducteurs. Rappel des propriétés de jonctions. Résultats obtenus sur les phénomènes de rupture dans les semi-conducteurs. Présentation de deux modèles théoriques tenant compte respectivement de la présence des impuretés dans les zones de transition des jonctions à profil de distribution des impuretés abrupt. Comparaison entre ces deux modèles avec les résultats de mesures de tension. Présentation des techniques de mesures de tension utilisées et spécifications techniques des appareils de mesure testée.

Mots clés : /CHAMP ELECTRIQUE/ /TENSION ELECTRIQUE/ /SEMI CONDUCTEUR/ /INSTRUMENT DE MESURE/ /JONCTION ELECTRIQUE/ /EXPERIMENTATION/ /RUPTURE/ /FREQUENCE/